Lütfen cihazı dikey konumda tutunuzLütfen cihazı dikey konumda tutunuzTopMap Micro. View
TopMap Micro.View, kullanımı kolay ve kompakt bir optik yüzey ölçüm cihazıdır. Yüksek performansı ve düşük maliyeti ile yüzey ölçüm teknolojisinde güvenilir kaliteyi kullanıcıya ulaşılabilir olarak sunar.
Genişletilmiş 100 mm Z ölçüm aralığı ve CST Sürekli Tarama Teknolojisi ile Micro.View, nm çözünürlükte karmaşık topografileri ölçer. Kolay kuruluma ve ölçümü kolaylaştıran, hızlandıran akıllı odaklanma özelliğine sahiptir.
Gürültülü, zorlu üretim ortamlarında bile güvenilir ve doğru ölçüm sonuçları sağlayan opsiyonel ECT Çevresel Kompanzasyon Teknolojisi ile çalışmalarınıza yardımcı olur!
Micro.View, hem üretim, hem de araştırma sürecinde hassas mühendislik yüzeylerini inceleyen kalite kontrol cihazıdır.
TopMap Micro.View +, yeni nesil optik yüzey ölçüm cihazıdır. Modülerlik için tasarlanan bu kapsamlı iş istasyonu, özelleştirilmiş ve uygulamalara özel konfigürasyonlar için uygun yapıya sahiptir. Micro.View +, yüzeyin pürüzlülüğünü, dokusunu ve mikro yapıdaki topografyasını en ayrıntılı şekilde ölçerek detaylı analizini gerçekleştirir.
En iyi görselleştirmeler ve kusurların ayrıntılı dokümantasyonu gibi genişletilmiş analizler için 3D verilerini renk bilgileriyle birleştirirerek, ölçüm sonucunun anlaşılır ve analizin kolay yapılmasını sağlar. Yüksek çözünürlüklü 5 MP kamera ile tasarlanmış yüzeylerin en iyi derecede 3D veri görselleştirmesini gerçekleştirir.
Kodlanmış ve motorlu taret, hedefler arasında sorunsuz bir geçiş sağlar. Micro.View +, yüzeyi her koşulda odakta tutan en yeni Focus Finder ve Focus Tracker özelliklerine sahiptir. Tamamen motorlu örnek konumlandırma aşamaları, ölçüm sonuçlarını birleştirmeye ve otomasyona kolaylık sağlamaktadır.
